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探伤方法中DR、CR数字成像用显示器的校验

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探伤方法中DR、CR数字成像用显示器的校验

发布日期:2018-09-03 作者: 点击:

NADCAP审核单中规定了要对射线图像评定用的显示器性能进行定期校验,校验需采用SMPTE RP133的显示器校验图像,该图像分辨率需和显示器分辨率一致,铺满整个屏幕

校验项目及校验方法见下文

1、校验项目:最小亮度;

校验要求:最大亮度下,显示器图像的最小值达到250cd/㎡;

校验方法:显示器亮度调至最高(从显示器侧边进行物理调节),用微孔探头测量SMPTE RP133中100%白色方框的亮度值,要求≥250cd/㎡,同时测量0%黑色方框的亮度值,要求≤1cd/㎡。

2、校验项目:最小对比度;

校验要求:最小对比度达到250:1;

校验方法:显示器亮度调至最高(从显示器侧边进行物理调节),用微孔探头测量SMPTE RP133中100%白色方框和0%黑色方框的亮度值,二者比值≥250:1。

3、校验项目:水平、垂直线性失真;

校验要求:最大对比度下,图像水平和垂直两个方向线条应是直的,没有偏移;

校验方法:显示器亮度和对比度调至最高(从显示器侧边进行物理调节),观察图像上的水平和垂直线条,要求线条笔直、无弯曲变形。

4、校验项目:0/5%和95/100%对比度框;

校验要求:0/5%和95/100%对比度框清晰可识别;

校验方法:显示器亮度调至最高(从显示器侧边进行物理调节),确认测试图中部的“0/5%”和“ 95/100%”大方框中的小方框可见。

5、校验项目:调制图形水平、垂直方向的可识别性;

校验要求:显示器应具备在低对比度(1%)下、识别显示器中心及四角上水平、垂直调制图形的能力;

校验方法:显示器亮度调到最高且对比度调到1%(从显示器侧边进行物理调节),确认测试图中部及四角的黑白条纹可见。

6、校验项目:几何变形;

校验要求:无;

校验方法:该条仅用于CRT显示器。

7、校验项目:屏闪烁;

校验要求:无;

校验方法:该条仅用于CRT显示器。

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